ატომური ძალის afm მიკროსკოპი
ატომური ძალის მიკროსკოპი (AFM), ანალიტიკური ინსტრუმენტი, რომელიც შეიძლება გამოყენებულ იქნას მყარი მასალების, მათ შორის იზოლატორების ზედაპირის სტრუქტურის შესასწავლად.ის სწავლობს ნივთიერების ზედაპირულ სტრუქტურას და თვისებებს, გამოავლენს უკიდურესად სუსტი ინტერატომური ურთიერთქმედების გამოსაცდელ ნიმუშის ზედაპირსა და მიკრო ძალის მგრძნობიარე ელემენტს შორის.იქნება წყვილი სუსტი ძალის უკიდურესად მგრძნობიარე მიკროკონსოლის ბოლო დაფიქსირებული, პატარა წვერის მეორე ბოლო ნიმუშთან ახლოს, შემდეგ ის ურთიერთქმედებს მასთან, ძალა გამოიწვევს მიკროკონსოლი დეფორმაციის ან მოძრაობის მდგომარეობის შეცვლას.ნიმუშის სკანირებისას, სენსორი შეიძლება გამოყენებულ იქნას ამ ცვლილებების დასადგენად, ჩვენ შეგვიძლია მივიღოთ ძალის ინფორმაციის განაწილება, რათა მივიღოთ ნანო-რეზოლუციის ინფორმაციის ზედაპირის მორფოლოგია და ზედაპირის უხეშობის ინფორმაცია.
★ ინტეგრირებულმა სკანირების ზონდმა და ნიმუშის ღერომ გააძლიერა ჩარევის საწინააღმდეგო უნარი.
★ ზუსტი ლაზერული და ზონდის პოზიციონირების მოწყობილობა ზონდის შეცვლას და ადგილის რეგულირებას მარტივ და მოსახერხებელს ხდის.
★ ნიმუშის ზონდის მიახლოების წესით გამოყენებით, ნემსი შეიძლება პერპენდიკულურად იყოს ნიმუშის სკანირებაზე.
★ ავტომატური იმპულსური ძრავის ძრავის მართვის ნიმუშის ზონდი ვერტიკალურად უახლოვდება სკანირების არეალის ზუსტი პოზიციონირების მისაღწევად.
★ ნიმუშის სკანირების ზონა თავისუფლად შეიძლება გადაადგილდეს მაღალი სიზუსტის ნიმუშის მობილური მოწყობილობის დიზაინის გამოყენებით.
★ CCD დაკვირვების სისტემა ოპტიკური პოზიციონირებით აღწევს რეალურ დროში დაკვირვებასა და ზონდის ნიმუშის სკანირების არეალის განლაგებას.
★ მოდულარიზაციის ელექტრონული კონტროლის სისტემის დიზაინმა ხელი შეუწყო მიკროსქემის შენარჩუნებას და მუდმივ გაუმჯობესებას.
★ მრავალჯერადი სკანირების რეჟიმის კონტროლის მიკროსქემის ინტეგრაცია, პროგრამულ სისტემასთან თანამშრომლობა.
★ ზამბარის საკიდარი, რომელიც მარტივ და პრაქტიკულ აძლიერებს ჩარევის საწინააღმდეგო უნარს.
| სამუშაო რეჟიმი | FM-დაკვრა, სურვილისამებრ კონტაქტი, ხახუნი, ფაზა, მაგნიტური ან ელექტროსტატიკური |
| ზომა | Φ≤90მმ,H≤20 მმ |
| სკანირების დიაპაზონი | 20 მმ XY მიმართულება,2 მმ Z მიმართულებით. |
| სკანირების გარჩევადობა | 0.2 ნმ XY მიმართულებით,0.05 ნმ Z მიმართულებით |
| ნიმუშის მოძრაობის დიაპაზონი | ± 6,5 მმ |
| ძრავის პულსის სიგანე უახლოვდება | 10±2 ms |
| სურათის შერჩევის წერტილი | 256×256,512×512 |
| ოპტიკური გადიდება | 4X |
| ოპტიკური გარჩევადობა | 2,5 მმ |
| სკანირების სიჩქარე | 0.6Hz~4.34Hz |
| სკანირების კუთხე | 0°~360° |
| სკანირების კონტროლი | 18-ბიტიანი D/A XY მიმართულებით,16-ბიტიანი D/A Z მიმართულებით |
| მონაცემთა შერჩევა | 14-bitA/D,ორმაგი 16-ბიტიანი A/D მრავალარხიანი სინქრონული შერჩევა |
| კავშირი | DSP ციფრული გამოხმაურება |
| უკუკავშირის შერჩევის მაჩვენებელი | 64.0KHz |
| კომპიუტერული ინტერფეისი | USB2.0 |
| საოპერაციო გარემო | Windows98/2000/XP/7/8 |