რენტგენის ფლუორესცენციის სპექტრომეტრი
ხარისხისა და ტექნიკური ზედამხედველობის ბიურო (გარემოსდაცვითი დირექტივა)
RoHS/Rohs (ჩინეთი)/ELF/EN71
სათამაშო
ქაღალდი, კერამიკა, საღებავი, ლითონი და ა.შ.
ელექტრო და ელექტრონული მასალები
ნახევარგამტარები, მაგნიტური მასალები, შედუღება, ელექტრონული ნაწილები და ა.შ.
ფოლადი, ფერადი ლითონები
შენადნობები, ძვირფასი ლითონები, წიდა, მადანი და ა.შ.
ქიმიური მრეწველობა
მინერალური პროდუქტები, ქიმიური ბოჭკოები, კატალიზატორები, საიზოლაციო მასალები, საღებავები, კოსმეტიკა და ა.შ.
გარემო
ნიადაგი, საკვები, სამრეწველო ნარჩენები, ნახშირის ფხვნილი
ზეთი
ზეთი, საპოხი ზეთი, მძიმე ზეთი, პოლიმერი და ა.შ.
სხვა
საფარის სისქის გაზომვა, ქვანახშირი, არქეოლოგია, მასალების კვლევა და სასამართლო ექსპერტიზა და ა.შ.
● სამი სხვადასხვა ტიპის რენტგენის რადიაციული უსაფრთხოების სისტემა, პროგრამული ჩამკეტი, ტექნიკის ჩამკეტი და მექანიკური საკეტი, სრულად აღმოფხვრის რადიაციის გაჟონვას ნებისმიერ სამუშაო პირობებში.
● XD-8010-ს აქვს უნიკალური დიზაინის ოპტიკური ბილიკი, რომელიც ამცირებს მანძილებს რენტგენის წყაროს, ნიმუშსა და დეტექტორს შორის, ხოლო ინარჩუნებს მოქნილობას გადართვის სხვადასხვა ფილტრებსა და კოლიმატორებს შორის.ეს მნიშვნელოვნად აუმჯობესებს მგრძნობელობას და ამცირებს გამოვლენის ლიმიტს.
● დიდი მოცულობის ნიმუშის კამერა საშუალებას იძლევა დიდი ნიმუშების უშუალო გაანალიზება დაზიანების ან წინასწარი დამუშავების გარეშე.
● მარტივი, ერთი ღილაკით ანალიზი მოსახერხებელი და ინტუიციური პროგრამული ინტერფეისის გამოყენებით.ინსტრუმენტის ძირითადი მუშაობის შესასრულებლად არ არის საჭირო პროფესიული მომზადება.
● XD-8010 უზრუნველყოფს ელემენტების სწრაფ ელემენტალურ ანალიზს S-დან U-მდე, რეგულირებადი ანალიზის დროით.
● ფილტრებისა და კოლიმატორების 15-მდე კომბინაცია.ხელმისაწვდომია სხვადასხვა სისქის და მასალების ფილტრები, ასევე კოლიმატორები Φ1 მმ-დან Φ7 მმ-მდე.
● მძლავრი ანგარიშის ფორმატირების ფუნქცია საშუალებას იძლევა ავტომატურად გენერირებული ანალიზის ანგარიშების მოქნილი პერსონალიზაცია.გენერირებული მოხსენებები შეიძლება შეინახოს PDF და Excel ფორმატებში.ანალიზის მონაცემები ავტომატურად ინახება ყოველი ანალიზის შემდეგ. ისტორიულ მონაცემებსა და სტატისტიკაზე წვდომა შესაძლებელია ნებისმიერ დროს მარტივი შეკითხვის ინტერფეისიდან.
● ინსტრუმენტის ნიმუშის კამერის გამოყენებით შეგიძლიათ დააკვირდეთ ნიმუშის პოზიციას რენტგენის წყაროს ფოკუსთან მიმართებაში.ნიმუშის სურათები გადაღებულია ანალიზის დაწყებისას და შეიძლება ნაჩვენები იყოს ანალიზის ანგარიშში.
● პროგრამული უზრუნველყოფის სპექტრების შედარების ინსტრუმენტი სასარგებლოა ხარისხობრივი ანალიზისა და მასალის იდენტიფიკაციისა და შედარებისთვის.
● თვისებრივი და რაოდენობრივი ანალიზის დადასტურებული და ეფექტური მეთოდების გამოყენებით შესაძლებელია შედეგების სიზუსტის გარანტია.
● ღია და მოქნილი კალიბრაციის მრუდის მორგების ფუნქცია სასარგებლოა სხვადასხვა აპლიკაციებისთვის, როგორიცაა მავნე ნივთიერებების გამოვლენა.
მავნე ელემენტების ანალიზის მეთოდი
| საშიში ნივთიერებები | მაგალითი | |
| სკრინინგის ანალიზი | დეტალური ანალიზი | |
| Hg | რენტგენის სპექტროსკოპია | AAS |
| Pb | ||
| Cd | ||
| Cr6 + | რენტგენის სპექტროსკოპია (სულ Cr-ის ანალიზი) | იონის ქრომატოგრაფია |
| PBBs / PBDEs | რენტგენის სპექტროსკოპია (სულ Br-ის ანალიზი) | GC-MS |
ხარისხის მართვის პროცესი
მავნე მიკროელემენტის გაზომვა პოლიეთილენის ნიმუშებში, როგორიცაა Cr, Br, Cd, Hg და Pb.
• მოცემული მნიშვნელობებისა და Cr, Br, Cd, Hg და Pb ფაქტობრივი მნიშვნელობების სხვაობა.
მოცემული მნიშვნელობების სხვაობა და Cr-ის რეალური მნიშვნელობები, (ერთეული: ppm)
| ნიმუში | მოცემული ღირებულება | ფაქტობრივი ღირებულება (XD-8010) |
| ცარიელი | 0 | 0 |
| ნიმუში 1 | 97.3 | 97.4 |
| ნიმუში 2 | 288 | 309.8 |
| ნიმუში 3 | 1122 წ | 1107.6 |
მოცემული მნიშვნელობების სხვაობა და Br-ის ფაქტობრივი მნიშვნელობები, (ერთეული: ppm)
| ნიმუში | მოცემული ღირებულება | ფაქტობრივი ღირებულება (XD-8010) |
| ცარიელი | 0 | 0 |
| ნიმუში 1 | 90 | 89.7 |
| ნიმუში 2 | 280 | 281.3 |
| ნიმუში 3 | 1116 წ | 1114.1 |
მოცემული მნიშვნელობებისა და Cd-ის რეალური მნიშვნელობების სხვაობა, (ერთეული: ppm)
| ნიმუში | მოცემული ღირებულება | ფაქტობრივი ღირებულება (XD-8010) |
| ცარიელი | 0 | 0 |
| ნიმუში 1 | 8.7 | 9.8 |
| ნიმუში 2 | 26.7 | 23.8 |
| ნიმუში 3 | 107 | 107.5 |
მოცემული მნიშვნელობებისა და რეალური მნიშვნელობების სხვაობა og Hg, (ერთეული: ppm)
| ნიმუში | მოცემული ღირებულება | ფაქტობრივი ღირებულება (XD-8010) |
| ცარიელი | 0 | 0 |
| ნიმუში 1 | 91.5 | 87.5 |
| ნიმუში 2 | 271 | 283.5 |
| ნიმუში 3 | 1096 წ | 1089.5 |
მოცემული მნიშვნელობების სხვაობა და Pb-ის რეალური მნიშვნელობები, (ერთეული: ppm)
| ნიმუში | მოცემული ღირებულება | ფაქტობრივი ღირებულება (XD-8010) |
| ცარიელი | 0 | 0 |
| ნიმუში 1 | 93.1 | 91.4 |
| ნიმუში 2 | 276 | 283.9 |
| ნიმუში 3 | 1122 წ | 1120.3 |
ნიმუშის განმეორებითი გაზომვის მონაცემები 3 Cr1122ppm, Br116ppm, Cd10ppm, Hg1096ppm, Pb1122ppm (ერთეული: ppm)
| Cr | Br | Cd | Hg | Pb | |
| 1 | 1128.7 | 1118.9 | 110.4 | 1079.5 | 1109.4 |
| 2 | 1126.2 | 1119.5 | 110.8 | 1072.4 | 1131.8 |
| 3 | 1111.5 | 1115.5 | 115.8 | 1068.9 | 1099.5 |
| 4 | 1122.1 | 1119.9 | 110.3 | 1086.0 | 1103.0 |
| 5 | 1115.6 | 1123.6 | 103.9 | 1080.7 | 1114.8 |
| 6 | 1136.6 | 1113.2 | 101.2 | 1068.8 | 1103.6 |
| 7 | 1129.5 | 1112.4 | 105.3 | 1079.0 | 1108.0 |
| საშუალო | 1124.3 | 1117.6 | 108.2 | 1076.5 | 1110.0 |
| Სტანდარტული გადახრა | 8.61 | 4.03 | 4.99 | 6.54 | 10.82 |
| RSD | 0.77% | 0.36% | 4.62% | 0.61% | 0.98% |
მეორადი ფილტრი Pb ელემენტისთვის (ფოლადის სუბსტრატის ნიმუშები), ნიმუში: ფოლადი (Pb 113ppm)
1. რენტგენის გამოსხივება პირველადი რენტგენის მილიდან, დასხივდება კოლიმატორის საშუალებით ნიმუშზე.
2. ელემენტების პირველადი რენტგენის აგზნების მახასიათებლები, რომლებიც შეიცავს ნიმუშში რენტგენის სხივებს მეორადი კოლიმატორის მეშვეობით დეტექტორში
3. დამუშავებულია დეტექტორის მეშვეობით, აყალიბებს ფლუორესცენტული სპექტროსკოპიის მონაცემებს
4. დასრულებულია კომპიუტერული სპექტროსკოპიის მონაცემთა ანალიზი, ხარისხობრივი და რაოდენობრივი ანალიზი
| მოდელი | NB-8010 | |
| ანალიზი პრინციპი | ენერგიის დისპერსიული რენტგენის ფლუორესცენცია ანალიზი | |
| ელემენტების დიაპაზონი | S (16) | |
| ნიმუში | პლასტიკური / მეტალი / ფილმი / მყარი / თხევადი / ფხვნილი და ა.შ., ნებისმიერი ზომის და არარეგულარული ფორმის | |
| რენტგენის მილი | სამიზნე | Mo |
| მილის ძაბვა | (5-50) კვ | |
| მილის დენი | (10-1000) და სხვა | |
| ნიმუშის დასხივება დიამეტრი | F1mm-F7mm | |
| ფილტრი | კომპოზიტური ფილტრის 15 კომპლექტი არის ავტომატურად არჩეული და ავტომატური კონვერტაცია | |
| დეტექტორი | იმპორტი ამერიკიდან Si-PIN დეტექტორი | |
| მონაცემთა დამუშავება მიკროსქემის დაფა | იმპორტი ამერიკიდან, თან Si-PIN დეტექტორების კომპლექტების გამოყენება | |
| ნიმუში დაკვირვება | 300000 პიქსელიანი CCD კამერით | |
| ნიმუშის პალატა ზომა | 490 (ლ)´430 (W)´150 (H) | |
| ანალიზის მეთოდი | ხაზოვანი ხაზოვანი, კვადრატული კოდის ხაზები, სიძლიერის და კონცენტრაციის კალიბრაციის კორექტირება | |
| Ოპერაციული სისტემა პროგრამული უზრუნველყოფა | Windows XP, Windows7 | |
| Მონაცემთა მართვა | Excel მონაცემთა მენეჯმენტი, ტესტის ანგარიშები, შენახულია PDF / Excel ფორმატი | |
| სამუშაო გარემო | ტემპერატურა: £ 30°C. ტენიანობა £70% | |
| წონა | 55 კგ | |
| ზომები | 550´450´395 | |
| Ენერგიის წყარო | AC220V±10%, 50/60 ჰც | |
| განსაზღვრა პირობები | ატმოსფერული გარემო | |